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X射線熒光光譜分析儀的一些特性
發(fā)布時間：2019-09-16 10:13:12 點擊：7716
X射線熒光光譜分析不僅成為對其物質的化學元素、物相、化學立體結構、物證材料進行試測，對產(chǎn)品和材料質量進行無損檢測，對人體進行醫(yī)檢和微電路的光刻檢驗等的重要分析手段，也是材料科學、生命科學、環(huán)境科學等普遍采用的一種快速、準確而又經(jīng)濟的多元素分析方法。
X射線熒光光譜分析儀的一些特性
X射線熒光光譜分析儀的不斷完善和發(fā)展所帶動的X射線熒光光譜分析技術已被廣泛用于冶金、地質、礦物、石油、化工、生物、醫(yī)療、刑偵、考古等諸多部門和領域。同時，X 射線熒光光譜儀也是野外現(xiàn)場分析和過程控制分析等方面選擇的儀器之一。
1、在測定微量成分時，由于X射線管的連續(xù)X射線所產(chǎn)生的散射線會產(chǎn)生較大的背景，致使目標峰的觀測比較困難。為了降低或消除背景和特征譜線等的散射X射線對高靈敏度分析的影響，此熒光分析儀配置了4種可自動切換的濾光片，有效地降低了背景和散射X射線的干擾，調整出最具感度的輻射，進一步提高了S/N的比值，從而可以進行更高靈敏度的微量分析。
2、X射線管的連續(xù)X射線所產(chǎn)生的散射線會產(chǎn)生較大的背景，軟件可自動過濾背景對分析結果的干擾，從而能確保對任何塑料樣品的進行快速準確的分析。
3、當某些元素的電子由高等級向低等級越遷時釋放的能量相近，會使此時譜圖的波峰重疊在一起，由此產(chǎn)生了重疊峰。SCIENSCOPE自行開發(fā)的軟件自動剝離重疊峰，確保了元素分析的正確性。
4、逃逸峰:由于采用的是Si針半導體探測器，因此當X射線熒光在通過探測器的時候，如果某種元素的含量較高或者能量較高，其被Si吸收的概率也就越大。此時，光譜圖中在該元素的能量值減去Si能量值的地方回產(chǎn)生一個峰，此峰即為逃逸峰。
5、在電壓不穩(wěn)的情況下，可對掃描譜圖的漂移進行自動追蹤補償。
