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展望X射線光譜儀的原理和發展
發布時間：2020-10-16 12:49:12 點擊：6854
物質的組分和結構分析是現代科學認知物質世界的重要手段，傳統的化學分析法、等離子休發射光譜法、紅外光譜法、拉曼光譜法等分析方法或因分析速度慢、造價高昂組織穿透性弱等弱點而使應用受到限制。
X射線光譜儀法以其分析速度快、非破壞性、分析元素范圍廣、分析含量范圍廣、分析精度高、制樣方法簡單樣品形態不受約束等優異特性,在組分和結構分析中占據了愈發重要的地位,甚至在某些方面取代了上述傳統分析方法，廣泛應用于物理、化學、材料、生物、醫學、天文、環境、考古、工業生產等領域。隨著電子技術、真空技術、光學技術、計算機技術的發展, X射線光譜儀技術獲得了巨大突破,其分析儀器不斷朝著小型化、多功能化、智能化方向發展，并不斷產生了新技術和新分支,豐富著X射線熒光光譜儀家族體系、拓寬著應用領域。
元素特征X射線的頻率與原子序數的二次冪成線性關系,且特征X射線的強度與元素的含量正相關。當被測樣品受到足夠高能量的光子或粒子照射時，各元素原子的內殼層電子被電離形成空穴，較高能級的電子自發向內層躍遷填充空穴,使原子恢復到低能態,同時輻射出具有特定能級差的X射線稱之為特征X射線。每種元素都具有其特定波長的X射線,通過測定樣品中元素相應的特征譜線及其強度就可以對元素進行定性定量分析。
按色散的不同, X射線光譜儀可分為.波長色散X射線熒光光譜儀(WDXRF)和能量色散X射線熒光光譜儀( EDXRF)；按激發條件的不同，可分為全反射X射線熒光光譜儀(TXRF)、偏振X射線熒光光譜儀( P-EDXRF)、微束X射線熒光光譜儀(μ -XRF)、質子激發X射線熒光光譜儀( PIXE)、同步輻射X射線熒光光譜儀(SRXRF)等;按應用場合的不同，可分為現場X射線光譜儀和在線X射線光譜儀等。
